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玉米考种及千粒重自动分析仪

简要描述:玉米考种及千粒重自动分析仪又叫玉米考种系统、自动种子考种分析及千粒重仪系统,主要用于专业玉米籽粒、果穗、截面的精确考种以及出苗数、整齐度、均匀度分析。

  • 产品型号:TPKZ-1
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2016-11-20
  • 访  问  量:2785

详细介绍

玉米考种及千粒重自动分析仪用途:
玉米考种及千粒重自动分析仪专业玉米籽粒、果穗、截面的精确考种以及出苗数、整齐度、均匀度分析。

功能特点:
籽粒分析:粒数,粒长,粒宽,粒型,均匀度,平均粒长,平均粒宽,有胚尖粒数,面积,周长,直径,长宽比例,圆度,千粒重等;
截面分析:籽粒行数,轴粗,粒长,粒宽。可一次性自动测量至少15个截面。
整穗分析:果穗长度,穗粗,秃尖长,穗型,左右穗缘角,穗行角,平均粒高(厚),每粒玉米的高度(厚)。穗行数、穗粒数、可自动获得至少五个果穗平均分析值。
其他分析:千粒重,百粒重,籽粒产量。

分析特色:

玉米籽粒分析 

可测粒数、粒长、粒宽。胚尖不明显的籽粒不测定长宽,种子的长宽zui后以有胚尖的种子长宽平均计算。能自动过滤掉胚尖不明显的籽粒。 

玉米整穗分析

可以自动获得穗长、穗粗、秃尖长(其位置可编辑调整)、左右穗、缘角、穗行角、平均粒高(厚) ,包括所测的每粒宽度、粒色(种子颜色的 R、G、B 值)等。每粒玉米的高度(厚)可以鼠标滚轮来方便地调节修正。选配 A3 扫描仪,可自动获得 5 个果穗的平均分析值。

玉米截面分析

可以自动获得籽粒行数、穗粗、轴粗,以及截面上的平均粒长、平均粒宽参数。其中,籽粒行数=果穗中部截面图一圈的籽粒数量;穗粗=果穗外接圆的直径;轴粗=轴线圆的直径;粒长=(果穗外接圆的直径-胚尖位置线圆直径)/2;粒宽=(果穗外接圆周长+胚尖位置线圆周长)/2/籽粒排数。

 
其他育种信息化设备:          
育种过程管理系统平台
种质资源库管理系统
育种小区远程监控系统
育种信息移动采集终端        
考种系统(玉米、水稻、小麦、油菜)                    
麦穗形态测量仪
水稻剑叶夹角测量仪       
油菜分支角测量仪
作物冠层温度测量仪          
植物光合/呼吸/蒸腾测量系统
冠层NDVI测定仪

 

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